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EDX-9000S PLUS全元素分析儀
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商品說明
應(yīng)用領(lǐng)域 EDX-9000S PLUS X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實(shí)現(xiàn)對各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對Si、P、S、AI、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行精確分析,并且測試時(shí)間短,大大提高了檢測效率和工作效率。另外,在礦石分析、合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。 儀器配置 高效超薄窗X光管 SDD硅漂移探測器 數(shù)字多道技術(shù) 信噪比增強(qiáng)器 SNE 高信噪比電子線路單元 內(nèi)置高清晰攝像頭 自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片 自動(dòng)穩(wěn)譜裝置 三重安全保護(hù)模式 可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu) 高清顯示屏 真空泵 商品參數(shù)
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